Benisevičiūtė, R.

• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 58 No. 2 (2005) - T 171 MICROELECTRONICS
  The Aspects of Non-standard CMOS Integrated Circuits Layout Design
  Abstract  PDF
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 70 No. 6 (2006) - T 171 MICROELECTRONICS
  Specific Features of Faults of Combinational CMOS Circuits
  Abstract  PDF
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 53 No. 4 (2004) - T 171 MICROELECTRONICS
  The Specific Features of Bipolar Transistor Circuit Design
  Abstract  PDF
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 2 No. 2 (1995) - Articles
  ESL LDIS dinaminių testinių vektorių sudarymas
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 4 No. 4 (1995) - Articles
  ESL bazinės ląstelės vėlinimo trukmės ir elektrinių parametrų sklaidos sąryšio tyrimas
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 5 No. 1 (1996) - Articles
  Dinaminių KMOP trigerių gedimų diagnostikos ypatumai
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 7 No. 3 (1996) - Articles
  KMOP kombinacijų schemų gedimų diagnostikos ypatumai
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 8 No. 4 (1996) - Articles
  KMOP kombinacijų schemų loginių ir fizinių gedimų adekvatumo analizė
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 10 No. 1 (1997) - Articles
  Propagation Delay Model of Gallium Arsenyde Emitter-Coupled Logic Circuits
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 11 No. 2 (1997) - Articles
  Aspects of Fault Diagnostics for Sequential CMOS Circuits
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 14 No. 1 (1998) - Articles
  Strategy of CMOS IC Layout Topology Design and Verification
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 18 No. 5 (1998) - Articles
  Analysis of Physical Level Faults of CMOS Integrated Circuits and Bonds with Higher Levels Faults
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 20 No. 2 (1999) - Articles
  Analysis of Simulation Possibilities by CMOS Integrated Circuits on Switch Level Description
  Abstract
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 50 No. 1 (2004) - T 170 ELECTRONICS
  Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse
  Abstract  PDF
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 47 No. 5 (2003) - T 171 MICROELECTRONICS
  The Testing Methods of Programmable Integrated Circuits
  Abstract  PDF
• Elektronika ir Elektrotechnika Vol. 23 No. 5 (1999) - Articles
  Design Strategy of New Generation of Electronics Circuits
  Abstract