Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse

Authors

  • V. Jusas Kauno technologijos universitetas
  • Ž. Tamoševičius Kauno technologijos universitetas
  • R. Benisevičiūtė Kauno technologijos universitetas

Abstract

Save tikrinančios schemos yra alternatyva išoriniams testavimo metodams. Ši testavimo technologija yra pažangesnė, nes ji kinta kartu su schemų projektavimo ir gamybos technologijomis. Straipsnyje pasiūlytas kombinuotas save testuojančios schemos testavimo metodas, pagrįstas atsitiktinių ir determinuotųjų rinkinių sekų generavimo metodų kombinacijomis. Metodo esmė ta, kad tam tikrais laiko momentais į save testuojančios schemos atsitiktinių rinkinių seką įterpiami determinuotieji rinkiniai. Tai atliekama panaudojant dešifravimo ir korekcijos logiką. Rinkiniams generuoti ir signatūrinei analizei atlikti naudojamas BILBO registras.Tai leidžia vykdyti abi funkcijas vienoje struktūroje. Pasiūlytas metodas įgalina pasiekti 100% aprėpti ir kartu mažiau reikia aparatūros šiam metodui realizuoti. Il. 7, bibl. 10 (lietuvių kalba; santraukos lietuvių, anglų ir rusų k.).

Author Biographies

V. Jusas, Kauno technologijos universitetas

Ž. Tamoševičius, Kauno technologijos universitetas

R. Benisevičiūtė, Kauno technologijos universitetas

Downloads

Published

2004-01-03

How to Cite

Jusas, V., Tamoševičius, Ž., & Benisevičiūtė, R. (2004). Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse. Elektronika Ir Elektrotechnika, 50(1). Retrieved from https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/10989

Issue

Section

T 170 ELECTRONICS