Sunkiai patikrinamų gedimų testavimas

Authors

  • M. Jančiukas Kauno technologijos universitetas
  • E. Bareiša Kauno technologijos universitetas

Abstract

Ankstesniuose tyrimuose buvo išnagrinėtas sunkiai patikrinamų gedimų aibės išskyrimo metodas. Šiame straipsnyje pristatomas nuoseklių sinchroninių schemų testavimo būdas, užtikrinantis 100 proc. testo pilnumą. Pirmas šio būdo etapas – atminties taškų parinkimas stebėjimui ir nustatymui. Antrajame etape naudojami būdai, alternatyvūs skenavimo metodologijai, papildomo atminties taškų stebėjimo ir nustatymo realizavimui. Šio būdo pranašumai, palyginti su skenavimu, yra trumpesni testai bei schemos testavimas visu jos veikimo greičiu, esant tiek pat, o kartais mažiau papildomos aparatūros. Eksperimente naudojamos ITC’99 etaloninės schemos. Darbo rezultatai apibendrinami išvadomis. Il. 1, bibl. 5 (lietuvių kalba; santraukos lietuvių, anglų ir rusų k.).

Downloads

Published

2003-09-21

How to Cite

Jančiukas, M., & Bareiša, E. (2003). Sunkiai patikrinamų gedimų testavimas. Elektronika Ir Elektrotechnika, 48(6). Retrieved from https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/11118

Issue

Vol. 48 No. 6 (2003)

Section

T 125 AUTOMATION, ROBOTICS

License

The copyright for the paper in this journal is retained by the author(s) with the first publication right granted to the journal. The authors agree to the Creative Commons Attribution 4.0 (CC BY 4.0) agreement under which the paper in the Journal is licensed.

By virtue of their appearance in this open access journal, papers are free to use with proper attribution in educational and other non-commercial settings with an acknowledgement of the initial publication in the journal.