Atsitiktinių procesų perviršių parametrų tikimybinių charakteristikų metodinis paklaidų tyrimas

Authors

  • S.R. Petrikis
  • S. Petrikis

Abstract

Nuo atsitiktinių procesų perviršių (viršijant nustatytą analizės lygį) parametrų matavimo tikslumo priklauso tiriamų objektų būsenos diagnostikos tikslumas. Didžiausią įtaką jam daro perviršių parametrų matavimo metodinės paklaidos atsi-tiktinė dedamoji. Parodyta, kaip ji priklauso nuo matavimo trukmės arba atskaitų skaičiaus, taip pat nuo tiriamojo atsitiktinio proceso tikimybių pasiskirstymo dėsnio.

Published

1998-04-27

How to Cite

Petrikis, S., & Petrikis, S. (1998). Atsitiktinių procesų perviršių parametrų tikimybinių charakteristikų metodinis paklaidų tyrimas. Elektronika Ir Elektrotechnika, 16(3). Retrieved from https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/16003

Issue

Vol. 16 No. 3 (1998)

Section

Articles

License

The copyright for the paper in this journal is retained by the author(s) with the first publication right granted to the journal. The authors agree to the Creative Commons Attribution 4.0 (CC BY 4.0) agreement under which the paper in the Journal is licensed.

By virtue of their appearance in this open access journal, papers are free to use with proper attribution in educational and other non-commercial settings with an acknowledgement of the initial publication in the journal.