Sunkiai patikrinamų gedimų testavimas

  • M. Jančiukas Kauno technologijos universitetas
  • E. Bareiša Kauno technologijos universitetas

Abstract

Ankstesniuose tyrimuose buvo išnagrinėtas sunkiai patikrinamų gedimų aibės išskyrimo metodas. Šiame straipsnyje pristatomas nuoseklių sinchroninių schemų testavimo būdas, užtikrinantis 100 proc. testo pilnumą. Pirmas šio būdo etapas – atminties taškų parinkimas stebėjimui ir nustatymui. Antrajame etape naudojami būdai, alternatyvūs skenavimo metodologijai, papildomo atminties taškų stebėjimo ir nustatymo realizavimui. Šio būdo pranašumai, palyginti su skenavimu, yra trumpesni testai bei schemos testavimas visu jos veikimo greičiu, esant tiek pat, o kartais mažiau papildomos aparatūros. Eksperimente naudojamos ITC’99 etaloninės schemos. Darbo rezultatai apibendrinami išvadomis. Il. 1, bibl. 5 (lietuvių kalba; santraukos lietuvių, anglų ir rusų k.).

Published
2015-03-27
Section
T 125 AUTOMATION, ROBOTICS