Jančiukas, M., and E. Bareiša. “Sunkiai Patikrinamų Gedimų Testavimas”. Elektronika ir Elektrotechnika 48, no. 6 (September 21, 2003). Accessed December 4, 2024. https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/11118.