M. Jančiukas and E. Bareiša, “Sunkiai patikrinamų gedimų testavimas”, ELEKTRON ELEKTROTECH, vol. 48, no. 6, Sep. 2003, Accessed: Feb. 11, 2026. [Online]. Available: https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/11118