[1]
V. Jusas, Ž. Tamoševičius, and R. Benisevičiūtė, “Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse”, ELEKTRON ELEKTROTECH, vol. 50, no. 1, Jan. 2004, doi: 10.5755/j02.eie.10989.