[1]
V. Jusas, Ž. Tamoševičius, and R. Benisevičiūtė, “Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse”, ELEKTRON ELEKTROTECH, vol. 50, no. 1, Jan. 2004, Accessed: Feb. 08, 2026. [Online]. Available: https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/10989