“Reaktyvaus Si Mikrooptinių struktūrų ėsdinimo SF6 Ar, N2, He, O2 Dujų Plazmoje įtakos Difrakcijos Efektyvumui Tyrimas”. 1998. Elektronika Ir Elektrotechnika 16 (3). https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/16011.