KULAK, E. N.; KAMINSKA, M. A.; GUZ, O. A.; PARFENTIY, O. N. Testability Analysis Approach TADATPG for Deterministic Test Generation. Elektronika ir Elektrotechnika, [S. l.], v. 66, n. 2, p. 11-16, 2006. Disponível em: https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/10579. Acesso em: 27 apr. 2024.