JANČIUKAS, M.; BAREIŠA, E. Sunkiai patikrinamų gedimų testavimas. Elektronika ir Elektrotechnika, [S. l.], v. 48, n. 6, 2003. Disponível em: https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/11118. Acesso em: 4 dec. 2024.