Bareiša, E., Bieliauskas, P., Jusas, V., Targamadzė, A., Motiejūnas, L. and Šeinauskas, R. 2010. Factor of Randomness in Functional Delay Fault Test Generation for Full Scan Circuits. Elektronika ir Elektrotechnika. 105, 9 (Oct. 2010), 39-42.