BALAIŠIS, P.; EIDUKAS, D.; NAVIKAS, D.; VILUTIS, G. Analysis of Digital Electronic Device Reliability. Elektronika ir Elektrotechnika, [S. l.], v. 28, n. 5, 2000. Disponível em: https://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/18279. Acesso em: 26 apr. 2024.