Atsitiktinių procesų perviršių parametrų tikimybinių charakteristikų metodinis paklaidų tyrimas

S.R. Petrikis, S. Petrikis

Abstract


Nuo atsitiktinių procesų perviršių (viršijant nustatytą analizės lygį) parametrų matavimo tikslumo priklauso tiriamų objektų būsenos diagnostikos tikslumas. Didžiausią įtaką jam daro perviršių parametrų matavimo metodinės paklaidos atsi-tiktinė dedamoji. Parodyta, kaip ji priklauso nuo matavimo trukmės arba atskaitų skaičiaus, taip pat nuo tiriamojo atsitiktinio proceso tikimybių pasiskirstymo dėsnio.

Refbacks

  • There are currently no refbacks.


Print ISSN: 1392-1215
Online ISSN: 2029-5731