Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse

  • V. Jusas Kauno technologijos universitetas
  • Ž. Tamoševičius Kauno technologijos universitetas
  • R. Benisevičiūtė Kauno technologijos universitetas

Abstract

Save tikrinančios schemos yra alternatyva išoriniams testavimo metodams. Ši testavimo technologija yra pažangesnė, nes ji kinta kartu su schemų projektavimo ir gamybos technologijomis. Straipsnyje pasiūlytas kombinuotas save testuojančios schemos testavimo metodas, pagrįstas atsitiktinių ir determinuotųjų rinkinių sekų generavimo metodų kombinacijomis. Metodo esmė ta, kad tam tikrais laiko momentais į save testuojančios schemos atsitiktinių rinkinių seką įterpiami determinuotieji rinkiniai. Tai atliekama panaudojant dešifravimo ir korekcijos logiką. Rinkiniams generuoti ir signatūrinei analizei atlikti naudojamas BILBO registras.Tai leidžia vykdyti abi funkcijas vienoje struktūroje. Pasiūlytas metodas įgalina pasiekti 100% aprėpti ir kartu mažiau reikia aparatūros šiam metodui realizuoti. Il. 7, bibl. 10 (lietuvių kalba; santraukos lietuvių, anglų ir rusų k.).

Author Biographies

V. Jusas, Kauno technologijos universitetas
Ž. Tamoševičius, Kauno technologijos universitetas
R. Benisevičiūtė, Kauno technologijos universitetas
Published
2004-01-03
How to Cite
Jusas, V., Tamoševičius, Ž., & Benisevičiūtė, R. (2004). Testų išsamumo užtikrinimas save testuojančiose skaitmeninėse. Elektronika Ir Elektrotechnika, 50(1). Retrieved from http://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/10989
Section
T 170 ELECTRONICS